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近赤外干渉式厚み・変位センサ

製品名

nXV-1

マルチレイヤーフィルムも対応 / 正確な変位と厚さの測定

point
  • 複数のコーティング層も正確に分離
  • オンラインで使える高速リアルタイム計測
  • 二次電池のシリング厚さ、PCコンフォーマルコーティング厚さなど
  • 最大16チャンネル

Nexensor社のnXV-1は最大16チャネルのプローブで正確な計測ができる干渉厚み・変位センサです。

複数の薄膜も分離して測定ができるため、コーティングのある表面も精度よく測定可能です。

測定に利用する光源の波長を変えることで、透明な物体(フィルム、ガラス、石英など)やシリコンウェハも測定でき、またPCBコンフォーマルコーティングや2次電池の封止厚さなど計測の難しい対象も測定できます。


Film&Glass

Wafer

Conformal Coating

Secondary Battery Sealing

仕様

プローブ スキャンタイプ スポットスキャン
タイプ T B C
サイズ Φ15 Φ33 Φ15 Φ33
WD 74mm 70mm 54mm 25mm
測定レンジ(厚さ) 0.05 ~ 4mm
最大レンジ(変位) 2mm 1mm
スポットサイズ 100μm 7μm 100μm 7μm
繰返精度 1nm
光源波長 1050nm
光源強さ 60mW
計測時間シングル 7ms
計測時間マルチ 70ms
動作環境照度 <5,000lux
動作環境温度 0 ~ 35℃
動作環境湿度 20 ~ 85%RH
コントローラー プローブ数 1 / 4 / 8 / 16
PCインタフェース イーサネット
標準消費電力 5V 4A
動作環境温度 0 ~ 45℃
動作環境湿度 35 ~ 85%RH

※ お客様サンプルのデモ測定をご希望の場合はお気軽にご相談ください。

価格

商品コード(型番) 構成/内容 価格
nXV-1 近赤外干渉式厚み・変位センサ nXV-1 お問い合わせ
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