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空冷・水冷対応VIS-SWIRカメラ
シリーズ名
VCXG-SWIR.XCシリーズ
シリーズ名
VCXG-SWIR.XCシリーズ
VIS-SWIRカメラとは
Baumer社のVIS-SWIRカメラは、高感度のソニー製SenSWIR InGaAsセンサを搭載しています。
このカメラ１台で可視光および不可視光のスペクトル、すなわち波長400～1700nmの範囲で撮影が可能です。
食品業界をはじめ、半導体業界や製薬業界など、さまざまな波長域で高精度が求められる分野において、新たな可能性を切り拓きます。
コーヒー豆に混入した黒い異物の検査
- 可視光
- SWIR 1300 nm
人間の目ではほとんど見えない、コーヒー豆に混入した黒い異物（小さな石）を検出します。
写真提供： ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社
果物の損傷の有無検査
- 可視光
- SWIR 1450 nm
人間の目では確認できない、リンゴなどの果物の損傷を検出します。
写真提供： ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社
ウェハ製造における位置決め
- 可視光
- SWIR 1550 nm
人間の目では見えない、位置合わせマークを検出します。例えば、半導体ウェハの製造工程における位置決めに活用できます。
写真提供： ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社
Baumer社VIS-SWIRカメラ ３つのメリット
① 優れた放熱設計
欠陥画素を最小限に抑え暗電流ノイズを削減するには、センサの温度を可能な限り低くする必要があります。
- 効果的な放熱を実現する、筐体に組み込まれた特許取得済みの冷却フィン
- 36×36 mmの大型筐体
- 低消費電力（12V時 2.1W）
② ２つの欠陥画素補正機能
優秀な画素補正機能がカメラのファームウェアに組み込み済みです。
- 欠陥画素の静的補正（スタティック）と動的補正（ダイナミック）の組み合わせ
- ほとんどの欠陥画素は静的補正（スタティック）によって補正
- 動的補正（ダイナミック）により、設定や条件の変化に伴い発生する欠陥画素も補正できる
③ 筐体内部に冷却パイプを搭載
一体型の冷却パイプにより、高精度な画像データと測定サイクルの短縮を実現します。
- 空冷/水冷による冷却で欠陥ピクセルをさらに低減し光学系への熱の侵入を防止
- 温度が安定するため、電源投入後すぐに高精度な測定が可能
- 省スペースで設置場所が限られている場合にも有効
ラインナップ
| 商品コード（型番） | 解像度 | フレーム レート |
イメージセンサ | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 種類 | 型番 | サイズ | ピクセル | シャッター | ||||
| VCXG-03SWIR.XC |  |
656×520 | 237fps | CMOS | IMX991 | 1/4” | 5µm | global |
| VCXG-14SWIR.XC | |
1296×1032 | 71fps | CMOS | IMX990 | 1/2” | 5µm | global |
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